X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀
簡(jiǎn)要描述：X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀又名x-ray光譜儀，x射線(xiàn)合金測厚儀，射線(xiàn)熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款應用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無(wú)損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。
產(chǎn)品型號：XULM XULM-XYm- 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間：2021-07-02
- 訪(fǎng) 問(wèn) 量：11428
產(chǎn)品詳情
X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 和FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® XYm X射線(xiàn)光譜儀，用于細小零部件上鍍層厚度的無(wú)損測量和成分分析
X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀X-RAY XULM系列簡(jiǎn)介
為了使每次測量都能在*的條件下進(jìn)行，XULM配備了可電動(dòng)調整的多種準直器及基本濾片。
比例接收器能實(shí)現高計數率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數法，無(wú)論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒(méi)有標準片的情況下進(jìn)行準確分析和測量?？蓽y量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。
XULM型X射線(xiàn)光譜儀有著(zhù)良好的長(cháng)期穩定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。
本款儀器特別適合用于客戶(hù)進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監控。
典型的應用領(lǐng)域有：
微小零部件、接插件和線(xiàn)材上鍍層厚度的測量
印制線(xiàn)路板上手動(dòng)測量
珠寶手表業(yè)中的鍍層厚度測量及成分分析
X-RAY XULM系列設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XULM設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量?jì)x器系列。根據使用用途，有以下兩種不同版本型號，分別對應不同樣品平臺：
XULM：固定平面平臺
XULM XYm：手動(dòng)X/Y平臺
高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能，可以定位測量位置。
盡管儀器本身結構緊湊，但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品。
外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線(xiàn)路板等。
通過(guò)強大且界面友好的WinFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個(gè)測量過(guò)程，包括測量結果的數據分析和所有相關(guān)信息的顯示等。
XULM型光譜儀是型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護措施的測量?jì)x器。
X-RAY XULM系列通用規范
| 用途 | 能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀 （EDXRF） 用于測量鍍層厚度和材料分析 |
| 可測量元素范圍 | 從氯（17）到鈾（92），如使用選配的WinFTM® BASIC，可zui多同時(shí)測量24種元素 |
| 設計理念 | 臺式儀器，測量門(mén)向上開(kāi)啟 |
| 測量方向 | 由下往上 |
X-RAY XULM系列X射線(xiàn)源
| X射線(xiàn)靶材 | 帶鈹窗口的鎢靶微聚焦射線(xiàn)管 |
| 高壓 | 三種可調高壓：30 kV，40 kV，50 kV |
| 孔徑（準直器） | 4個(gè)可切換準直器： 標準型（523-440）：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.05 x 0.05mm；0.2 x 0.03mm 可選 （523-366）：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；Ø 0.3 mm；矩形0.3 x 0.05 mm 可選 （524-061）：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.3 x 0.05 mm；0.05 x 0.05mm 可按要求定制其它規格 |
| 基本濾片 | 3種可切換的基本濾片（標準型：鎳，無(wú)，鋁） |
| 測量點(diǎn)大小 | 取決于測量距離和使用的準直器的大小，視頻窗口中顯示的就是實(shí)際的測量點(diǎn)尺寸，使用矩形0.05 x 0.05mm準直器，zui小的測量點(diǎn)面積約為Ø 0.1 mm。 |
| 測量距離，如樣品為腔體時(shí) | 使用保護的DCM（測量距離補償法）功能： 測量距離為0 ~ 20 mm時(shí)，為已校準范圍； 測量距離為20 ~ 27.5 mm，為非校準范圍。 |
X射線(xiàn)探測器
| X射線(xiàn)接收器 | 比例接收器 |
| 二次濾波器 | 可選：鈷濾波器或鎳濾波器 |
X-RAY XULM系列樣品定位
| 視頻顯微鏡 | 高分辨 CCD彩色攝像頭，可用來(lái)觀(guān)察測量位置十字線(xiàn)刻度和測量點(diǎn)大小經(jīng)過(guò)校準 測量區域的LED照明亮度可調節 |
| 放大倍數 | 38 x ~184x （光學(xué)變焦: 38x ~ 46x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x） |
| 樣品臺 | XULM | XULM XYm |
| 設計 | 固定樣品平臺 | 手動(dòng)XY平臺 |
| X/Y方向zui大可移動(dòng)范圍 | - | 50 x 50 mm |
| 樣品放置可用區域 | 250 x 280mm | |
| 樣品zui大重量 | 2kg | |
| 樣品zui高高度 | 240mm | |
| 電氣參數 | |
| 電壓，頻率 | AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz |
| 功率 | zui大為 120 W （測量頭重量，不包括計算機） |
| 保護等級 | IP40 |
| 儀器規格 | |
| 外部尺寸 | 寬x深x高[mm]：395 x 580 x 510 |
| 重量 | 約45 kg |
| 內部測量艙尺寸 | 寬x深x高[mm]：360 x 380 x 240 |
| 環(huán)境要求 | |
| 測量時(shí)溫度 | 10°C – 40°C / 50°F – 104°F |
| 存儲或運輸時(shí)溫度 | 0°C – 50°C / 32°F – 122°F |
| 空氣相對濕度 | ≤ 95 %，無(wú)結露 |
| 計算系統 | |
| 計算機 | 帶擴展卡的Windows®個(gè)人計算機系統 |
| 軟件 | 標準配置：Fischer WinFTM® LIGHT |
| 可選配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER | |
| 執行標準 | |
| CE合格標準 | EN 61010 |
| X射線(xiàn)標準 | DIN ISO 3497和 ASTM B 568 |
| 型式許可 | 型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護措施的測量?jì)x器。 |
如有特殊要求，可與Fischer磋商，定制特殊的XULM型號。
X射線(xiàn)熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應用于鍍層厚度測量，同時(shí)也適于進(jìn)行元素分析。
可以對幾乎任意尺寸和狀態(tài)的工件進(jìn)行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進(jìn)行分析。
可以對幾乎任意尺寸和狀態(tài)的工件進(jìn)行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進(jìn)行分析。
FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 和XDAL系列是能量分散的高性能X射線(xiàn)熒光光譜儀，它可以對未知材料進(jìn)行簡(jiǎn)單，快速而的分析。分析范圍從鋁（Al）到鈾（U），即使含量很小也可以測量。
X-RAY XULM系列這些*的儀器之所以具有如此強大的性能，是因為它使用了帶珀耳帖冷卻的高光譜分辨率的半導體探測器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM® V6軟件。
如果與應用工具箱Gold Assay組合在一起，這些儀器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分--珠寶和貴金屬領(lǐng)域快速、無(wú)損和測量金含量的理想設備。
X-RAY XULM系列這些*的儀器之所以具有如此強大的性能，是因為它使用了帶珀耳帖冷卻的高光譜分辨率的半導體探測器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM® V6軟件。
如果與應用工具箱Gold Assay組合在一起，這些儀器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分--珠寶和貴金屬領(lǐng)域快速、無(wú)損和測量金含量的理想設備。
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